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傳導(dǎo)抗擾度背景噪聲測量的必要性與方法
日期：2025-05-13 21:17
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摘要：1 前言
為了確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性、可重復(fù)性，部分電磁兼容試驗(yàn)項(xiàng)目需要在環(huán)境電平低、且恒定的電磁環(huán)境中進(jìn)行，它能為測量精度的提高、測量的可靠性和重復(fù)性的改善帶來較大的益處。
常見的測試環(huán)境有開闊場、電波暗室、屏蔽室、TEM小室、一般試驗(yàn)場地。每種環(huán)境場地都有各自的優(yōu)缺點(diǎn)，我們需要根據(jù)試驗(yàn)項(xiàng)目的特性及測試要求，選擇適當(dāng)?shù)沫h(huán)境場地進(jìn)行試驗(yàn)。
傳導(dǎo)抗擾度測試，目前業(yè)內(nèi)有兩種試驗(yàn)場地：屏蔽室和非屏蔽室。屏蔽室試驗(yàn)環(huán)境必然優(yōu)于非屏蔽室，是否有必要選擇在屏蔽室進(jìn)行試驗(yàn)?zāi)?
2 標(biāo)準(zhǔn)法...
1 前言
為了確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性、可重復(fù)性，部分電磁兼容試驗(yàn)項(xiàng)目需要在環(huán)境電平低、且恒定的電磁環(huán)境中進(jìn)行，它能為測量精度的提高、測量的可靠性和重復(fù)性的改善帶來較大的益處。
常見的測試環(huán)境有開闊場、電波暗室、屏蔽室、TEM小室、一般試驗(yàn)場地。每種環(huán)境場地都有各自的優(yōu)缺點(diǎn)，我們需要根據(jù)試驗(yàn)項(xiàng)目的特性及測試要求，選擇適當(dāng)?shù)沫h(huán)境場地進(jìn)行試驗(yàn)。
傳導(dǎo)抗擾度測試，目前業(yè)內(nèi)有兩種試驗(yàn)場地：屏蔽室和非屏蔽室。屏蔽室試驗(yàn)環(huán)境必然優(yōu)于非屏蔽室，是否有必要選擇在屏蔽室進(jìn)行試驗(yàn)?zāi)?
2 標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)對傳導(dǎo)抗擾度測試環(huán)境條件有要求嗎
我們來看看標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)，對傳導(dǎo)抗擾度測試環(huán)境條件的相關(guān)描述：
基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)GB17626.6-2017( IEC 61000-4-6：2013)對電磁環(huán)境要求描述如下：
從以上標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)中可以看出，標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)對傳導(dǎo)抗擾度的測試環(huán)境沒有強(qiáng)制要求，但實(shí)際電磁環(huán)境不能影響測試。所以當(dāng)我們沒有在屏蔽室進(jìn)行傳導(dǎo)抗擾度試驗(yàn)時，須考慮場地電磁環(huán)境對傳導(dǎo)抗擾度測試的影響。
3 如何對傳導(dǎo)抗擾度測試環(huán)境進(jìn)行確認(rèn)
當(dāng)在非屏蔽室內(nèi)進(jìn)行傳導(dǎo)抗擾度測試時，實(shí)際測試的電磁環(huán)境可能比較復(fù)雜，部分頻段/頻點(diǎn)噪聲可能達(dá)到或超過試驗(yàn)等級，進(jìn)而影響試驗(yàn)結(jié)果判定。
傳導(dǎo)抗擾度電磁環(huán)境背景噪聲的測量布置示意圖如下：耦合網(wǎng)絡(luò)CDN和信號發(fā)生器按照實(shí)際測試進(jìn)行布置/擺放，耦合網(wǎng)絡(luò)EUT端口連接至接收機(jī)的輸入端，信號源無輸出，接收機(jī)在0.15MHz-80MHz/230MHz頻段測量環(huán)境/系統(tǒng)的電磁噪聲。
頻段范圍內(nèi)環(huán)境噪聲須低于level 1的水平(120dBuv)。
傳導(dǎo)抗擾度環(huán)境噪聲測量布置示意圖
按照上述布置后，測量的結(jié)果如下，可以看出電磁環(huán)境給測試系統(tǒng)帶來了一定的電磁噪聲：
實(shí)測系統(tǒng)/環(huán)境噪聲
斷開接收機(jī)與耦合網(wǎng)絡(luò)的鏈接，測量的數(shù)據(jù)如下：
接收機(jī)未與耦合網(wǎng)絡(luò)鏈接時測量數(shù)據(jù)
4 結(jié)語
綜 上，當(dāng)傳導(dǎo)抗擾度試驗(yàn)未在屏蔽室進(jìn)行時，依據(jù)CNAS-CL16:2013需要提供環(huán)境(背景)測試報(bào)告。根據(jù)以上測量數(shù)據(jù)，非屏蔽試驗(yàn)場地外界電磁環(huán)境會影響傳導(dǎo)抗擾度系統(tǒng)背景噪聲，復(fù)雜電磁環(huán)境甚至?xí)绊懺囼?yàn)結(jié)果判定。
因此，傳導(dǎo)抗擾度試驗(yàn)建議在屏蔽室進(jìn)行，非屏蔽室試驗(yàn)場地，須進(jìn)行場地電磁環(huán)境(背景噪聲)確認(rèn)。
為了確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性、可重復(fù)性，部分電磁兼容試驗(yàn)項(xiàng)目需要在環(huán)境電平低、且恒定的電磁環(huán)境中進(jìn)行，它能為測量精度的提高、測量的可靠性和重復(fù)性的改善帶來較大的益處。
常見的測試環(huán)境有開闊場、電波暗室、屏蔽室、TEM小室、一般試驗(yàn)場地。每種環(huán)境場地都有各自的優(yōu)缺點(diǎn)，我們需要根據(jù)試驗(yàn)項(xiàng)目的特性及測試要求，選擇適當(dāng)?shù)沫h(huán)境場地進(jìn)行試驗(yàn)。
傳導(dǎo)抗擾度測試，目前業(yè)內(nèi)有兩種試驗(yàn)場地：屏蔽室和非屏蔽室。屏蔽室試驗(yàn)環(huán)境必然優(yōu)于非屏蔽室，是否有必要選擇在屏蔽室進(jìn)行試驗(yàn)?zāi)?
2 標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)對傳導(dǎo)抗擾度測試環(huán)境條件有要求嗎
我們來看看標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)，對傳導(dǎo)抗擾度測試環(huán)境條件的相關(guān)描述：
基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)GB17626.6-2017( IEC 61000-4-6：2013)對電磁環(huán)境要求描述如下：
GB/T 6113.204-2008(CISPR 16-2-4 2003)對抗擾度試驗(yàn)環(huán)境要求如下：
CNAS認(rèn)可文件CNAS-CL16:2013對傳導(dǎo)抗擾度測試電磁環(huán)境要求描述如下：
從以上標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)中可以看出，標(biāo)準(zhǔn)法規(guī)對傳導(dǎo)抗擾度的測試環(huán)境沒有強(qiáng)制要求，但實(shí)際電磁環(huán)境不能影響測試。所以當(dāng)我們沒有在屏蔽室進(jìn)行傳導(dǎo)抗擾度試驗(yàn)時，須考慮場地電磁環(huán)境對傳導(dǎo)抗擾度測試的影響。
3 如何對傳導(dǎo)抗擾度測試環(huán)境進(jìn)行確認(rèn)
當(dāng)在非屏蔽室內(nèi)進(jìn)行傳導(dǎo)抗擾度測試時，實(shí)際測試的電磁環(huán)境可能比較復(fù)雜，部分頻段/頻點(diǎn)噪聲可能達(dá)到或超過試驗(yàn)等級，進(jìn)而影響試驗(yàn)結(jié)果判定。
傳導(dǎo)抗擾度電磁環(huán)境背景噪聲的測量布置示意圖如下：耦合網(wǎng)絡(luò)CDN和信號發(fā)生器按照實(shí)際測試進(jìn)行布置/擺放，耦合網(wǎng)絡(luò)EUT端口連接至接收機(jī)的輸入端，信號源無輸出，接收機(jī)在0.15MHz-80MHz/230MHz頻段測量環(huán)境/系統(tǒng)的電磁噪聲。
頻段范圍內(nèi)環(huán)境噪聲須低于level 1的水平(120dBuv)。
傳導(dǎo)抗擾度環(huán)境噪聲測量布置示意圖
按照上述布置后，測量的結(jié)果如下，可以看出電磁環(huán)境給測試系統(tǒng)帶來了一定的電磁噪聲：
實(shí)測系統(tǒng)/環(huán)境噪聲
斷開接收機(jī)與耦合網(wǎng)絡(luò)的鏈接，測量的數(shù)據(jù)如下：
接收機(jī)未與耦合網(wǎng)絡(luò)鏈接時測量數(shù)據(jù)
4 結(jié)語
綜 上，當(dāng)傳導(dǎo)抗擾度試驗(yàn)未在屏蔽室進(jìn)行時，依據(jù)CNAS-CL16:2013需要提供環(huán)境(背景)測試報(bào)告。根據(jù)以上測量數(shù)據(jù)，非屏蔽試驗(yàn)場地外界電磁環(huán)境會影響傳導(dǎo)抗擾度系統(tǒng)背景噪聲，復(fù)雜電磁環(huán)境甚至?xí)绊懺囼?yàn)結(jié)果判定。
因此，傳導(dǎo)抗擾度試驗(yàn)建議在屏蔽室進(jìn)行，非屏蔽室試驗(yàn)場地，須進(jìn)行場地電磁環(huán)境(背景噪聲)確認(rèn)。
